
【新品發(fā)布】InCiTe 2.0立式Micro CT
- 分類:新聞中心
- 作者:Tansi
- 來(lái)源:
- 發(fā)布時(shí)間:2024-12-17 17:17
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【概要描述】 加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線顯微鏡(Micro CT)是一款先進(jìn)的微型計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng),專為科研和工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計(jì),能夠提供高分辨率、高細(xì)節(jié)的非破壞性檢測(cè)成像。該設(shè)備具有兩種X射線探測(cè)器選項(xiàng):BrillianSe直接轉(zhuǎn)換探測(cè)器或Reveal平板探測(cè)器,采用可更換的模塊化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新的相位對(duì)比成像或光譜成像功能。 特點(diǎn)和應(yīng)用 1. 相襯成像: 適用于低密度材料或細(xì)微結(jié)構(gòu)差異的檢測(cè),例如聚合物或生物組織。 提高了傳統(tǒng)X射線技術(shù)難以捕捉的細(xì)節(jié)可見度。 2. 光譜成像: 支持單次掃描實(shí)現(xiàn)多種材料的區(qū)分,大幅提升效率和材料分析的精確度。 適用于需要高靈敏度的多材料檢測(cè)場(chǎng)景。 3. 適用領(lǐng)域: 工業(yè)中的材料分析和組件檢測(cè)(例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域)。 科研中用于更精細(xì)的結(jié)構(gòu)研究和復(fù)雜樣品的無(wú)損分析。 其它優(yōu)勢(shì) 1. 與傳統(tǒng)X射線或掃描電子顯微鏡(SEM)系統(tǒng)相比,能夠更好地展示精細(xì)特征,同時(shí)確保材料的完整性。 2. 支持雙能X射線成像功能,一次掃描可獲取三張圖像,無(wú)運(yùn)動(dòng)偽影,大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。 inCiTe 2.0系統(tǒng)具有雙探測(cè)器的兼容設(shè)計(jì)和用戶友好的操作界面,必將成為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域的理想解決方案。
【新品發(fā)布】InCiTe 2.0立式Micro CT
【概要描述】
加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線顯微鏡(Micro CT)是一款先進(jìn)的微型計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng),專為科研和工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計(jì),能夠提供高分辨率、高細(xì)節(jié)的非破壞性檢測(cè)成像。該設(shè)備具有兩種X射線探測(cè)器選項(xiàng):BrillianSe直接轉(zhuǎn)換探測(cè)器或Reveal平板探測(cè)器,采用可更換的模塊化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新的相位對(duì)比成像或光譜成像功能。
特點(diǎn)和應(yīng)用
1. 相襯成像:
適用于低密度材料或細(xì)微結(jié)構(gòu)差異的檢測(cè),例如聚合物或生物組織。
提高了傳統(tǒng)X射線技術(shù)難以捕捉的細(xì)節(jié)可見度。
2. 光譜成像:
支持單次掃描實(shí)現(xiàn)多種材料的區(qū)分,大幅提升效率和材料分析的精確度。
適用于需要高靈敏度的多材料檢測(cè)場(chǎng)景。
3. 適用領(lǐng)域:
工業(yè)中的材料分析和組件檢測(cè)(例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域)。
科研中用于更精細(xì)的結(jié)構(gòu)研究和復(fù)雜樣品的無(wú)損分析。
其它優(yōu)勢(shì)
1. 與傳統(tǒng)X射線或掃描電子顯微鏡(SEM)系統(tǒng)相比,能夠更好地展示精細(xì)特征,同時(shí)確保材料的完整性。
2. 支持雙能X射線成像功能,一次掃描可獲取三張圖像,無(wú)運(yùn)動(dòng)偽影,大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。
inCiTe 2.0系統(tǒng)具有雙探測(cè)器的兼容設(shè)計(jì)和用戶友好的操作界面,必將成為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域的理想解決方案。
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加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線顯微鏡(Micro CT)是一款先進(jìn)的微型計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng),專為科研和工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計(jì),能夠提供高分辨率、高細(xì)節(jié)的非破壞性檢測(cè)成像。該設(shè)備具有兩種X射線探測(cè)器選項(xiàng):BrillianSe直接轉(zhuǎn)換探測(cè)器或Reveal平板探測(cè)器,采用可更換的模塊化設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新的相位對(duì)比成像或光譜成像功能。



特點(diǎn)和應(yīng)用
1. 相襯成像:
適用于低密度材料或細(xì)微結(jié)構(gòu)差異的檢測(cè),例如聚合物或生物組織。
提高了傳統(tǒng)X射線技術(shù)難以捕捉的細(xì)節(jié)可見度。
2. 光譜成像:
支持單次掃描實(shí)現(xiàn)多種材料的區(qū)分,大幅提升效率和材料分析的精確度。
適用于需要高靈敏度的多材料檢測(cè)場(chǎng)景。
3. 適用領(lǐng)域:
工業(yè)中的材料分析和組件檢測(cè)(例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域)。
科研中用于更精細(xì)的結(jié)構(gòu)研究和復(fù)雜樣品的無(wú)損分析。
其它優(yōu)勢(shì)
1. 與傳統(tǒng)X射線或掃描電子顯微鏡(SEM)系統(tǒng)相比,能夠更好地展示精細(xì)特征,同時(shí)確保材料的完整性。
2. 支持雙能X射線成像功能,一次掃描可獲取三張圖像,無(wú)運(yùn)動(dòng)偽影,大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。
inCiTe 2.0系統(tǒng)具有雙探測(cè)器的兼容設(shè)計(jì)和用戶友好的操作界面,必將成為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域的理想解決方案。
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