• 分類：新聞中心
• 作者：Tansi
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• 發(fā)布時(shí)間：2024-12-17 17:17
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【概要描述】 加拿大KA Imaging公司近期研發(fā)推出的inCiTe 2.0立式3D X射線顯微鏡（Micro CT）是一款先進(jìn)的微型計(jì)算機(jī)斷層掃描系統(tǒng)，專為科研和工業(yè)應(yīng)用而設(shè)計(jì)，能夠提供高分辨率、高細(xì)節(jié)的非破壞性檢測(cè)成像。該設(shè)備具有兩種X射線探測(cè)器選項(xiàng)：BrillianSe直接轉(zhuǎn)換探測(cè)器或Reveal平板探測(cè)器，采用可更換的模塊化設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)創(chuàng)新的相位對(duì)比成像或光譜成像功能。 特點(diǎn)和應(yīng)用 1. 相襯成像： 適用于低密度材料或細(xì)微結(jié)構(gòu)差異的檢測(cè)，例如聚合物或生物組織。 提高了傳統(tǒng)X射線技術(shù)難以捕捉的細(xì)節(jié)可見度。 2. 光譜成像： 支持單次掃描實(shí)現(xiàn)多種材料的區(qū)分，大幅提升效率和材料分析的精確度。 適用于需要高靈敏度的多材料檢測(cè)場(chǎng)景。 3. 適用領(lǐng)域： 工業(yè)中的材料分析和組件檢測(cè)（例如航空航天、建筑與安防領(lǐng)域）。 科研中用于更精細(xì)的結(jié)構(gòu)研究和復(fù)雜樣品的無(wú)損分析。 其它優(yōu)勢(shì) 1. 與傳統(tǒng)X射線或掃描電子顯微鏡（SEM）系統(tǒng)相比，能夠更好地展示精細(xì)特征，同時(shí)確保材料的完整性。 2. 支持雙能X射線成像功能，一次掃描可獲取三張圖像，無(wú)運(yùn)動(dòng)偽影，大大提高了生產(chǎn)力和分析效率。 inCiTe 2.0系統(tǒng)具有雙探測(cè)器的兼容設(shè)計(jì)和用戶友好的操作界面，必將成為學(xué)術(shù)和工業(yè)領(lǐng)域的理想解決方案。